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產(chǎn)品中心
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
ZYGO新型Verifire HDX干涉儀
ZYGO新型Verifire HDX干涉儀是為高精度的光學(xué)元件和系統(tǒng)設(shè)計和制造的，可以獲得元件表面的中頻特征信息。系統(tǒng)包含現(xiàn)有Verifire HD的所有功能-比如QPSI和長壽命穩(wěn)頻的激光器，并增加了重要的增強(qiáng)功能，如刷新行業(yè)水平的分辨率和成像能力，儀器傳遞函數(shù)（ITF）、出眾的中頻特征分析和大坡度表面測試，同時也兼具了ZYGO DynaPhase®系列動態(tài)采集技術(shù)，可以消除震動引起的問題并且能夠在近乎任何環(huán)境中準(zhǔn)確計量。
光學(xué)表面測量中的中頻特征分析
UltraFlat和UltraSphereλ/ 40傳輸元件
篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。測量儀器 電子元器件 電工儀器儀表 衡器 儀器儀表 光學(xué)儀器 測量儀表 分析儀器 測試儀器 實(shí)驗(yàn)儀器裝置 流量儀表 工業(yè)自動化儀表 溫度儀表 實(shí)驗(yàn)室儀器 試驗(yàn)機(jī) 電子測量儀表 氣體檢測分析儀 自動化儀表及系統(tǒng) 電工儀器 監(jiān)測儀器 物位儀表 電子測量儀器 壓力儀表 試驗(yàn)機(jī)設(shè)備 變送器 試驗(yàn)箱 環(huán)保檢測儀器 無損檢測儀器 儀器儀表配件生物儀器 室內(nèi)環(huán)保檢測儀器 電能儀表 感應(yīng)器 氣象儀器 儀器儀表元器件及器材 量具/量儀 量具 色譜儀 計量標(biāo)準(zhǔn)器具 校驗(yàn)儀器 量儀 量器量具 集成電路 儀器儀表用功能材料 紡織用儀器 機(jī)械量測量儀表 電能表 驅(qū)動裝置 車用儀表 計時器 儀用電源 儀器儀表用結(jié)構(gòu)裝置 氣動單元組合儀表 紫外線分析儀器 橡塑儀器儀表 微波儀器 包裝測試設(shè)備 強(qiáng)電/弱電用接點(diǎn)材料.
篤摯憑借積累了十幾年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，在檢測和儀器儀表領(lǐng)域都對行業(yè)和產(chǎn)品擁有著深刻的認(rèn)識，*的專業(yè)知識和對客戶需求的深層理解。從為客戶推薦型號，到報價，成單，訂單跟蹤，質(zhì)檢，包裝出運(yùn)，售后服務(wù)等一系列流程，都有專門的人員負(fù)責(zé)。不管是將國內(nèi)配件銷售給海外客戶，還是將進(jìn)口儀器提供給國內(nèi)客戶，篤摯一直都堅(jiān)守這兩個領(lǐng)域，致力于提供合適的產(chǎn)品和專業(yè)放心的服務(wù)給客戶。
特殊設(shè)計優(yōu)化的分辨率和性能：
Verifire HDX系統(tǒng)具有全新的光學(xué)設(shè)計，經(jīng)過嚴(yán)格設(shè)計，可為其所配的3.4kx 3.4k（1160萬像素）傳感器提供突破像素限制的性能，呈現(xiàn)增強(qiáng)的圖像，可以顯示出較低分辨率干涉儀難以辨識的表面特征。這種很高的空間分辨率不會以犧牲速度為代價，該系統(tǒng)在全分辨率下以幀率96 Hz運(yùn)行，比其它高分辨率干涉儀速度快10倍，那些由于采樣速度較慢在采樣的時候會引入震動誤差從而測試能力受限。功率譜密度（PSD）和衍射分析工具完善了Verifire HDX系統(tǒng)的中頻特征分析能力，并通過簡單直觀的用戶界面來分析和報告綜合表面特性。
高質(zhì)量的參考光學(xué)元件和配件：
UltraFlat™和UltraSphere™很高精度透射平面和球面，面形可以達(dá)到λ/40 PVr或更高，并且嚴(yán)格控制PSD特征進(jìn)行制造，以優(yōu)化中頻特征。推薦將這些高精度參考光學(xué)元件與Verifire HDX干涉儀一起配合使用，以全面實(shí)現(xiàn)和提升系統(tǒng)的性能。無論它們是被用于垂直構(gòu)型還是水平構(gòu)型，UltraFlat透射平板面形精度不變，從而在測試設(shè)置中提供更大的靈活性。
Mx Software, Zernike Analysis Results
