高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2

• 更新時間：2017-07-03
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高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2
與Perthometer M1相比，該儀器不僅滿足了所選參數(shù)的確定和記錄要求，而且還使得DIN / ISO / JIS規(guī)定的大部分參數(shù)和特性曲線可用于評估輪廓的評估。
此外，Perthometer M2提供了一個集成的存儲器，用于多達200個測量結(jié)果，并能夠?qū)崿F(xiàn)容差監(jiān)測，垂直刻度選擇以及用于峰值計算計算的不對稱交叉線的設置。

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高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2

MAHR PERTHOMETER M2 

The Universal Standard Instrument ..  

Highly , high-performance surface roughness unit 

通用標準儀器

高移動性，高性能表面粗糙度單位

典型特征 ：
●測量范圍可達150μm（6000μin）
●單位μm/μin可選
●標準：可選擇SIN / ISO / JIS和CNOMO（Motif）
●根據(jù)DIN EN ISO 4288 / ASME B461的運行長度：1.75mm，5.6mm 17.5mm（.07in，.22in，.7in）;根據(jù)EN ISO 12085：1mm，2mm，4mm，8mm，12mm，16mm
●采樣長度可選擇1到5
●自動選擇符合標準的過濾器和運行長度
●根據(jù)DIN EN ISO 11562的相位校正型材過濾器
●截止0.25mm / 0.80mm / 2.50mm（.010in / .032in。/ 100in）
●可切斷短路
根據(jù)DIN / ISO / SEP的參數(shù)：Ra，Rz，Rmax，Rp，Rq，Rt，R3z，Rk，Rvk，Rpk，Mr1，Mr2，Mr，Sm，RPc，按照JIS：Ra，Rz，Ry， Sm，S，tp;主題參數(shù)：R，Rx，Ar，W，CR，CF，CL（三區(qū)測量）
●顯示和測量記錄中的容差監(jiān)控
●自動或可調(diào)縮放
●印刷R型材（ISO / JIS），P型材（MOTIF），材料比例曲線，測量記錄
●測量的輸出日期和/或時間
●集成內(nèi)存，zui多可達200??次測量
●動態(tài)拾音校準
●阻止儀器設置，防止意外修改以及密碼保護的可能性
 
產(chǎn)品描述：

• 該儀器的操作基于經(jīng)過驗證的功能目錄，可以非常容易地選擇諸如測量條件，語言和記錄內(nèi)容等儀器設置。因此，Perthometer M2提供了zui大的舒適性和靈活性。
• 與Perthometer M1相比，該儀器不僅滿足了所選參數(shù)的確定和記錄要求，而且還使得DIN / ISO / JIS規(guī)定的大部分參數(shù)和特性曲線可用于評估輪廓的評估。
• 此外，Perthometer M2提供了一個集成的存儲器，用于多達200個測量結(jié)果，并能夠?qū)崿F(xiàn)容差監(jiān)測，垂直刻度選擇以及用于峰值計算計算的不對稱交叉線的設置。

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